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清潔度自動分析系統(tǒng)
清潔度自動分析系統(tǒng)
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HACCO-500ZD 清潔度檢測系統(tǒng)的完全符合 VDA 19.1-2015, ISO 16232, ISO4406 和 ISO 4407、QV11111以及客戶自定義等標(biāo)準(zhǔn)的要求。采用光學(xué)偏振技術(shù)，手動轉(zhuǎn)動偏光裝置，通過兩次掃描即可完成整個濾膜上所有污染物的金屬光澤反射屬性的判定，同時根據(jù) VDA19.1 對纖維的形態(tài)學(xué)定義（拉伸長度/蕞大內(nèi)切圓直徑＞20，蕞大內(nèi)切圓直徑≦50 微米），即可在幾分鐘內(nèi)迅速自動完成以下四類顆粒的分類和尺寸測量：反光顆粒、反光纖維、非反光顆粒、非反光纖維。
隱藏域元素占位
本裝置采用精密微孔濾膜，抽真空過濾待檢測流體，將流體中的顆粒污染物截留在濾膜表面，再對濾膜采用色標(biāo)比色法、配對稱重法、顯微鏡觀察法、儀器分析法等方法，對流體中所含的顆粒污染物的大小進行手動分析。根據(jù)流體的性質(zhì)、顆粒粒徑與分析目的不同，選用不同性能、不同孔徑的濾膜。?
隱藏域元素占位
HACCO-100ZD 清潔度檢測系統(tǒng)的完全符合 VDA 19.1-2015, ISO 16232, ISO4406 和 ISO 4407、QV11111以及客戶自定義等標(biāo)準(zhǔn)的要求。采用光學(xué)偏振技術(shù)，手動轉(zhuǎn)動偏光裝置，通過兩次掃描即可完成整個濾膜上所有污染物的金屬光澤反射屬性的判定，同時根據(jù) VDA19.1 對纖維的形態(tài)學(xué)定義（拉伸長度/蕞大內(nèi)切圓直徑＞20，蕞大內(nèi)切圓直徑≦50 微米），即可在幾分鐘內(nèi)迅速自動完成以下四類顆粒的分類和尺寸測量：反光顆粒、反光纖維、非反光顆粒、非反光纖維。
隱藏域元素占位
HACCO-CAI100 清潔度檢測系統(tǒng)的完全符合 VDA 19.1-2015, ISO 16232, ISO4406 和 ISO 4407、QV11111以及客戶自定義等標(biāo)準(zhǔn)的要求。采用光學(xué)偏振技術(shù)，手動轉(zhuǎn)動偏光裝置，通過兩次掃描即可完成整個濾膜上所有污染物的金屬光澤反射屬性的判定，同時根據(jù) VDA19.1 對纖維的形態(tài)學(xué)定義（拉伸長度/蕞大內(nèi)切圓直徑＞20，蕞大內(nèi)切圓直徑≦50 微米），即可在幾分鐘內(nèi)迅速自動完成以下四類顆粒的分類和尺寸測量：反光顆粒、反光纖維、非反光顆粒、非反光纖維。
隱藏域元素占位
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